Maksimum Hassasiyet ile 50kHz 'e Kadar Ölçüm

optoNCDT 2300
Sepete Ekle

optoNCDT 2300

Maksimum Hassasiyet ile 50kHz 'e Kadar Ölçüm
x
  • MARKALAR
    • Micro Epsilon
  • Ürün Kataloğu: indir

Yeni optoNCDT 2300 serisi lazer deplasman sensörleri, 49.02kHz 'e kadar ayarlanabilir ölçüm oranları sunmaktadır. Sensörün önemli bir avantajı ise, gövdesine entegre olan kontrol ünitesi sayesinden kompakt tasarıma sahip olması.

optoNCDT 2300 özellikle zorlu, zor yüzeylerde titreşim ya da ölçümlerin izlenmesi gibi yüksek hızlı uygulamalar için uygundur. Bunun yanı sıra yansıtıcı yüze diffüz ölçümü ve doğrudan yansıtan yüzeyleri ölçme yeteneğine sahiptir.

  • Ölçüm aralıkları (mm): 2 | 10 | 20 | 50 | 100 | 200 | 300
  • Doğrusallık max. 0.4μm
  • Çözünürlük max. 0.03μm
  • 49.02kHz kadar ayarlanabilir ölçüm oranı
  • Entegre kontrolör
  • Çıkışlar: Ethernet, EtherCat veya RS422
  • CSP2008 yoluyla analog çıkış
  • Gelişmiş gerçek zamanlı yüzey aracı

BU KATAGORiYE AiT DiĞER ÜRÜNLER

Micro-Epsilon 'un OEM uygulamaları ve standart uygulamaları için tasarladığı 1220 serisi lazer deplasman...
x
optoNCDT ILD 1320 yer değiştirme, mesafe ve konum ölçümleri için kompakt boyutlu yeni bir lazer...
x
OptoNCDT ILD 1420, mesafe ve konum ölçümleri için hız, boyut ve performans ve uygulamada benzersiz bir...
x
optoNCDT ILD 1900 serisi sensör, dinamik yer değiştirme, mesafe ve konum ölçümleri için kullanılır.
x
optoNCDT 1402SC sensörler IP69K korumalı ve 5mm ile 600mm ölçüm aralığna sahiptir...
x
optoNCDT ILD 1900 serisi sensör, dinamik yer değiştirme, mesafe ve konum ölçümleri için kullanılır.
x
Micro-Epsilon 'un Yeni  optoNCDT1750 serisi lazer deplasman ölçüm sensörleri multi fonksiyonel özellikleri ile ölçüm yeteneği ve renkten etkilenmeden ölçüm yapabilme ayrıcalığı...
x
Parlak ve sert yüzeyler için tasarlanmış optoNCDT 1750LL serisi yüksek hassasiyetle ölçüm yapmaktadır...
x
Yeni optoNCDT 2300 serisi lazer deplasman sensörleri, 49.02kHz 'e kadar ayarlanabilir ölçüm...
x
optoNCDT 2300 serisi lazer sensörler parlak metallik ve pürüzlü yüzeyler için son derece dinamik ölçüm...
x